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产品名称:试验探针

产品型号:ZLT-C01

产品报价:

产品特点:试验探针的生命周期中每一个阶段都起着重要作用:从技术开发,到模型参数提取,再到设计验证及调试一直到小规模生产测试和生产测试。

ZLT-C01试验探针的详细资料:

   试验探针的生命周期中每一个阶段都起着重要作用:从技术开发,到模型参数提取,再到设计验证及调试一直到小规模生产测试和生产测试。通过使用试验探针,人们便有可能在晶片层次上测量射频组件的真正特性。

  试验探针的基本要求和工作原理

  1)试验探针的平面传输线应当直接与压点相接触而不用接触导线。对于微带线和随后的共面探针设计,探针的接触是用小的金属球来实现的,这个金属球要足够大以保证可靠且可重复性的接触。

  2)为了能同时接触到信号压点和接地压点,需要将探针倾斜。这个过程被称为“探针的平面化”。

  3)探针的接触重复性比同轴连接器的可重复性要好得多。便于进行探针极尖和在片标准及专用校准方法的开发。

  4)具有很高重复性的接触可以进行探针的准确校准并将测量参考平面移向其极尖处。来自探针线和到同轴连接器的过渡所产生的探针的损耗及反射是通过由射频电缆和连接器的误差相类似的方式而抵消的。

  5)由于其很小的几何尺寸,人们可以假设平面标准件的等效模型纯粹是集总式的。此外,人们可以从标准件的几何尺寸来很容易地预测模型参数。

 

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